AXIOM系列 X射線鍍層測厚儀 

AXIOM系列

適用于：|電子和電器|PCB|連接器|珠寶|電鍍液分析|緊固件|硬件|

     AXIOM鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術，該技術已被普遍認可并且得到廣泛應用，可以在極少甚至無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的21Ti到92U 。

     AXIOM配備超高分辨率的探測器，是檢測超薄鍍層和痕量級元素成分的理想儀器。

一、功能：

1、性能及符合性：

通過PTB認證，符合*高輻射**標準

檢測方法通過ISO 3497，ASTM B568，DIN 50987和IEC 62321等認證

開槽式大樣品臺

可編程的XY樣品臺

樣品腔體積（寬/深/高）：600 X 500 X 172.5mm（W X D X H）

特殊的防撞設計

2、可編程的樣品臺

預定位激光技術

*大化樣品臺行程范圍及速度

自動測量

3、軟件及校準

基于WINDOWS 10操作系統

選擇經驗校準以實現*大準確性或選擇FP無標樣模式以輕松

成分分析：可自由選擇元素，同時實現多于20種元素的定量分析

厚度測量：可自定義鍍層結構，*多同時測定5層

二、特點

采用微聚焦硼窗X射線光管，實現高精度、高可靠性，測量時間短、

使用壽命長、購置成本低

采用高分辨SDD探測器，提供能量級別的*佳效率，

極低的檢出限(LOD)

多準直器可優化不同尺寸樣品熒光信號產額，提高測量效率

開槽式超大樣品艙設計，十分適合標準及超大樣品

“USB接口”只需通過USB與計算機連接，無需額外硬件。

德國技術，符合*高工程標準

堅固耐用的設計可實現長期可靠性

通過PTB認證，滿足*高輻射**標準

三、操作步驟

1、將樣品放在大樣品臺上

     無損分析：無需樣品制備

     樣品易定位，大艙門和開槽設計有利于大型平板樣品

     操作**

     側窗式：更易觀察到樣品

2、選擇樣品測量點

     精準的測量點定位—高分辨率和高放大倍率的彩色影像裝置

     操縱桿或鼠標控制實現快速簡便的樣品定位

     以客戶定制的分析模式完成單點或多點分析

3、結果報告

     高清彩**像，易于識別

     測試結果一鍵導出到Word，Excel，HTML和PDF格式

     客戶定制的報告，簡單，靈活