產品詳情
簡單介紹：
X射線鍍層測厚儀 AXIOM鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術，該技術已被普遍認可并且得到廣泛應用，可以在極少甚至無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的21Ti到92U 。
X射線鍍層測厚儀 AXIOM配備超高分辨率的探測器，是檢測超薄鍍層和痕量級元素成分的理想儀器。
詳情介紹：
X射線鍍層測厚儀
STARK系列用于首飾及合金中的金屬元素分析、金屬鍍層厚度測量專為珠寶首飾行業定制的檢測儀器。
貴金屬是制造首飾的基礎物質，同時也普遍應用在高技術產業中，如電子和醫藥領域。貴金屬的產品周期包括從礦石開采原材料、通過專門的復雜加工技術成型直到回收處理。
在制造時尚首飾時，人們往往采用便于加工的材料，如黃銅、鋅合金或鋼。根據視覺的要求，然后再用裝飾性的金屬涂層進行覆蓋。通常使用X射線熒光法可以快速、無損和準確的測量。
一、功能：
1、采用X射線熒光光譜法：無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。
2、鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。
3、可測量厚度范圍：Ti鈦—U鈾
4、鍍層層數：多至5層。
5、測量點尺寸：圓形測量點，直徑約0.2-0.8毫米。
6、測量時間：通常60秒-180秒。
7、樣品*大尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。
8、測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。
9、可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結構而定。
10、同時定量測量8個元素。
11、定性鑒定材料達20個元素。
X射線鍍層測厚儀 STARK系列參數
